Неупругая длина свободного пробега - Inelastic mean free path

В неупругая длина свободного пробега (IMFP) - показатель того, насколько далеко электрон в среднем проходит через твердое тело до потери энергии.

Универсальная кривая для неупругой длины свободного пробега электронов в элементах на основе уравнения (5) в.^[1]

Если монохроматический первичный пучок электронов падает на твердую поверхность, большинство падающих электронов теряют свою энергию, потому что они сильно взаимодействуют с веществом, что приводит к плазмон возбуждение электронно-дырочный образование пар и колебательное возбуждение.^[2] Интенсивность первичных электронов, ${ displaystyle I_ {0}}$ , затухает как функция расстояния, d, в твердое тело. Спад интенсивности можно выразить следующим образом:

{ Displaystyle I (d) = I_ {0} e ^ {- d / lambda (E)}}

куда ${ displaystyle textstyle I (d)}$ это интенсивность после того, как первичный электронный пучок прошел через твердое тело на расстояние ${ displaystyle textstyle d}$ . Параметр ${ displaystyle textstyle lambda (E)}$ , называемая неупругой средней длиной свободного пробега (IMFP), определяется как расстояние, которое может пройти электронный луч, прежде чем его интенсивность снизится до ${ displaystyle textstyle 1 / e}$ от его начального значения. (Обратите внимание, что это уравнение тесно связано с Закон Бера-Ламберта.)

Неупругая длина свободного пробега электронов грубо описывается универсальной кривой, одинаковой для всех материалов.^[1]^[3]

Смотрите также

Рекомендации

^ ^а ^б Seah, M. P .; Денч, В. А. (1979), "Количественная электронная спектроскопия поверхностей: стандартная база данных для неупругих длин свободного пробега электронов в твердых телах", Поверхностный и интерфейсный анализ, 1: 2–11, Дои:10.1002 / sia.740010103
^ Р. Ф. Эгертон (1996) Спектроскопия потерь энергии электронов в электронном микроскопе (Второе издание, Plenum Press, Нью-Йорк) ISBN 0-306-45223-5
^ Вернер, Вольфганг С. М. (2001), "Обзор электронного транспорта в твердых телах", Поверхностный и интерфейсный анализ, 31 (3): 141–176, Дои:10.1002 / sia.973

[Seah-1] а ^б Seah, M. P .; Денч, В. А. (1979), "Количественная электронная спектроскопия поверхностей: стандартная база данных для неупругих длин свободного пробега электронов в твердых телах", Поверхностный и интерфейсный анализ, 1: 2–11, Дои:10.1002 / sia.740010103

[2] Р. Ф. Эгертон (1996) Спектроскопия потерь энергии электронов в электронном микроскопе (Второе издание, Plenum Press, Нью-Йорк) ISBN 0-306-45223-5

[Werner-3] Вернер, Вольфганг С. М. (2001), "Обзор электронного транспорта в твердых телах", Поверхностный и интерфейсный анализ, 31 (3): 141–176, Дои:10.1002 / sia.973

[1]

[2]

[3]