Мультисрезы - Multislice

В мультиспиральный Алгоритм - это метод моделирования упругого взаимодействия электронный луч с веществом, включая все эффекты множественного рассеяния. Обзор метода приведен в книге Коули.^[1] Алгоритм используется при моделировании высокого разрешения. Просвечивающая электронная микроскопия микрофотографии и служит полезным инструментом для анализа экспериментальных изображений.^[2] Здесь мы описываем соответствующую справочную информацию, теоретические основы метода, используемые приближения и несколько пакетов программного обеспечения, реализующих этот метод. Более того, мы очерчиваем некоторые преимущества и ограничения этого метода, а также важные соображения, которые необходимо принимать во внимание при использовании в реальном мире.

Фон

Мультисрезовый метод нашел широкое применение в электронной кристаллографии. Сопоставление кристаллической структуры с ее изображением или дифракционной картиной относительно хорошо изучено и задокументировано. Однако обратное отображение электронных микрофотографий на кристаллическую структуру обычно более сложно. Тот факт, что изображения представляют собой двухмерные проекции трехмерной кристаллической структуры, делает утомительным сравнение этих проекций со всеми правдоподобными кристаллическими структурами. Следовательно, использование численных методов при моделировании результатов для различной кристаллической структуры является неотъемлемой частью области электронной микроскопии и кристаллографии. Существует несколько программных пакетов для моделирования электронных микрофотографий.

В литературе существуют два широко используемых метода моделирования: волновой метод Блоха, основанный на оригинальной теоретической трактовке эксперимента Дэвиссона-Гермера Гансом Бете, и метод множественных срезов. В этой статье мы в первую очередь сосредоточимся на многосрезовом методе моделирования дифракционных картин, включая эффекты множественного упругого рассеяния. Большинство существующих пакетов реализуют алгоритм мультисрезов наряду с анализом Фурье для включения эффектов аберрации электронной линзы для определения изображения с электронного микроскопа и решения таких аспектов, как фазовый контраст и дифракционный контраст. Для образцов электронного микроскопа в форме тонкой кристаллической пластины с геометрией пропускания целью этих программных пакетов является предоставление карты кристаллического потенциала, однако этот процесс инверсии значительно усложняется наличием многократного упругого рассеяния.

Первое описание того, что сейчас известно как теория мультисрезов, было дано в классической статье Коули и Муди.^[3] В этой работе авторы описывают рассеяние электронов с использованием подхода физической оптики без привлечения квантово-механических аргументов. Многие другие выводы этих итерационных уравнений с тех пор были даны с использованием альтернативных методов, таких как функции Грина, дифференциальные уравнения, матрицы рассеяния или методы интегралов по путям.

Краткое изложение разработки компьютерного алгоритма на основе теории многосрезов Коули и Муди для численных вычислений было сообщено Гудманом и Муди.^[4] Они также подробно обсудили связь мультиспирации с другими составами. В частности, используя теорему Цассенхауза, эта статья дает математический путь от мультиспирации к 1. уравнению Шредингерса (полученному из мультиспирации), 2. дифференциальным уравнениям Дарвина, широко используемым для моделирования дифракционно-контрастных изображений ПЭМ - уравнениям Хауи-Уилана, полученным из многосрезов. . 3. Метод матрицы рассеяния Стерки. 4. случай распространения в свободном пространстве, 5. Приближение фазовой решетки, 6. Новое приближение «толстой фазовой решетки», которое никогда не использовалось, 7. Полиномиальное выражение Муди для многократного рассеяния, 8. Интеграл Фейнмана по путям формулировка, и 9. связь мультиспира с серией Борна. Взаимосвязь между алгоритмами резюмируется в разделе 5.11 Spence (2013),^[5] (см. рисунок 5.9).

Теория

Представленная здесь форма многосрезового алгоритма была адаптирована из Peng, Dudarev and Whelan 2003.^[6] Многосрезовый алгоритм - это подход к решению волнового уравнения Шредингера:

${displaystyle {egin{aligned}-{frac {hbar ^{2}}{2m}}{frac {partial ^{2}Psi (x,t)}{partial x^{2}}}+V(x,t)Psi (x,t)&=EPsi (x,t)end{aligned}}}$

В 1957 году Коули и Муди показали, что уравнение Шредингера можно решить аналитически для оценки амплитуд дифрагированных лучей.^[3] Впоследствии эффекты динамической дифракции могут быть рассчитаны, и результирующее смоделированное изображение будет иметь хорошее сходство с реальным изображением, полученным с микроскопа в динамических условиях. Кроме того, алгоритм мультисрезов не делает никаких предположений о периодичности структуры и, таким образом, может использоваться для моделирования изображений ВРЭМ апериодических систем.

В следующем разделе будет представлена ​​математическая формулировка алгоритма Multislice. Уравнение Шредингера также можно представить в виде падающей и рассеянной волны как:

${displaystyle {egin{aligned}Psi ({mathbf {r} })&=Psi _{0}({mathbf {r} })+int {G({mathbf {r,r'} })V({mathbf {r'} })Psi ({mathbf {r'} })d{mathbf {r'} }}end{aligned}}}$

куда ${displaystyle G(mathbf {r,r'} )}$ - функция Грина, представляющая амплитуду волновой функции электрона в точке ${displaystyle mathbf {r} }$ из-за источника в точке ${displaystyle mathbf {r'} }$.

Следовательно, для падающей плоской волны вида ${displaystyle Psi (r)=exp(imathbf {kcdot r} )}$ уравнение Шредингера можно записать как

${displaystyle {egin{aligned}Psi ({mathbf {r} })=exp(i{mathbf {kcdot r} })-{frac {m}{2pi hbar ^{2}}}int {frac {exp(ikcdot {mathbf {|r-r'|} })}{mathbf {|r-r'|} }}V({mathbf {r'} })Psi ({mathbf {r'} })dr'.end{aligned}}}$

(1)

Затем мы выбираем ось координат таким образом, чтобы падающий луч попадал на образец в точке (0,0,0) в ${displaystyle {hat {z}}}$-направление, т.е. ${ extstyle mathbf {k} =(0,0,k)}$. Теперь рассмотрим волновую функцию ${displaystyle Psi (r)=phi (mathbf {r} )exp(imathbf {kcdot r} )}$ с функцией модуляции ${displaystyle phi ({mathbf {r} })}$ для амплитуды. Уравнение (1) становится уравнением для функции модуляции, т. е.

${displaystyle {egin{aligned}phi ({mathbf {r} })&=1-{frac {m}{2pi hbar ^{2}}}int {{frac {exp[ik|{mathbf {r-r'} }|-i{mathbf {k} }cdot ({mathbf {r-r'} })]}{|{mathbf {r-r'} }|}}V({mathbf {r'} )phi ({mathbf {r'} })}dr'}end{aligned}}}$.

Теперь сделаем замены в отношении системы координат, которую мы придерживались, т.е.

${displaystyle {egin{aligned}{mathbf {k} }cdot ({mathbf {r-r'} })&=k(z-z')|{mathbf {r-r'} }|&approx (z-z')+({mathbf {X-X'} })^{2}/{2(z-z')}end{aligned}}}$

и поэтому

${displaystyle {egin{aligned}phi ({mathbf {r} })=1-i{frac {pi }{Elambda }}int int limits _{z'=-infty }^{z'=z}V({mathbf {X'} },z')phi ({mathbf {X'} },z'){frac {1}{ilambda (z-z')}}exp left(ik{frac {|{mathbf {X-X'} }|^{2}}{2(z-z')}}ight)d{mathbf {X'} }dz'end{aligned}}}$,

куда ${displaystyle lambda =2pi /k}$ - длина волны электронов с энергией ${displaystyle E=hbar ^{2}k^{2}/{2m}}$ и ${displaystyle {egin{aligned}sigma =pi /Elambda end{aligned}}}$ - постоянная взаимодействия. Пока что мы создали математическую формулировку волновой механики, не обращая внимания на рассеяние в материале. Далее нам нужно обратиться к поперечному распространению, что делается в терминах функции распространения Френеля.

${displaystyle {egin{aligned}p({mathbf {X} },z)={frac {1}{izlambda }}exp left(ik{frac {{mathbf {X} }^{2}}{2z}}ight)end{aligned}}}$.

Толщина каждого среза, по которому выполняется итерация, обычно мала, и в результате внутри среза потенциальное поле может быть аппроксимировано постоянным. ${displaystyle V({mathbf {X'} },z)}$. Впоследствии функцию модуляции можно представить как:

${displaystyle {egin{aligned}phi ({mathbf {X} },z_{n+1})=int p({mathbf {X} }-{mathbf {X'} },z_{n+1}-z_{n})phi ({mathbf {X} },z_{n})exp left(-isigma int limits _{z_{n}}^{z_{n+1}}V({mathbf {X'} },z')dz'ight)dX'end{aligned}}}$

Таким образом, мы можем представить функцию модуляции в следующем срезе.

${displaystyle {egin{aligned}phi _{n+1}=phi ({mathbf {X} },z_{n+1})=[q_{n}phi _{n}]*p_{n}end{aligned}}}$

где, * представляет свертку, ${displaystyle p_{n}=p({mathbf {X} },z_{n+1}-z_{n})}$ и ${displaystyle q_{n}({mathbf {X} })}$ определяет передаточную функцию среза.

${displaystyle {egin{aligned}q_{n}({mathbf {X} })=exp{-isigma int limits _{z_{n}}^{z_{n+1}}V({mathbf {X} },z')dz'}end{aligned}}}$

Следовательно, итеративное применение вышеупомянутой процедуры обеспечит полную интерпретацию образца в контексте. Кроме того, следует повторить, что не было сделано никаких предположений о периодичности выборки, кроме предположения, что потенциал ${displaystyle V(mathbf {X} ,z)}$ равномерно внутри среза. В результате очевидно, что этот метод в принципе подойдет для любой системы. Однако для апериодических систем, в которых потенциал будет быстро меняться вдоль направления луча, толщина среза должна быть значительно малой и, следовательно, приведет к более высоким вычислительным затратам.

Таблица 1 - Вычислительная эффективность дискретного преобразования Фурье по сравнению с быстрым преобразованием Фурье

Точки данных	${displaystyle mathbf {log_{2}} }$N	Дискретный FT	Fast FT	Соотношение
64	6	4,096	384	10.7
128	7	16,384	896	18.3
256	8	65,536	2,048	32
512	9	262,144	4,608	56.9
1,024	10	1,048,576	10,240	102.4
2,048	11	4,194,304	22,528	186.2

Практические соображения

Основная предпосылка состоит в том, чтобы рассчитать дифракцию от каждого слоя атомов с помощью быстрого преобразования Фурье (БПФ) и умножения каждого на член фазовой решетки. Затем волна умножается на пропагатор, обратное преобразование Фурье, снова умножается на член фазовой решетки, и процесс повторяется. Использование БПФ обеспечивает значительное вычислительное преимущество, в частности, по сравнению с методом волн Блоха, поскольку алгоритм БПФ включает ${displaystyle Nlog N}$ шагов по сравнению с проблемой диагонализации блоховского волнового решения, которое масштабируется как ${displaystyle N^{2}}$ куда ${displaystyle N}$ - количество атомов в системе. (См. Таблицу 1 для сравнения вычислительного времени).

Самым важным шагом в выполнении мультисрезовых вычислений является настройка элементарной ячейки и определение подходящей толщины среза. В общем случае элементарная ячейка, используемая для моделирования изображений, будет отличаться от элементарной ячейки, которая определяет кристаллическую структуру конкретного материала. Основная причина этого связана с эффектами наложения спектров, которые возникают из-за ошибок циклического перехода в вычислениях БПФ. Требование добавить дополнительные «заполнители» к элементарной ячейке получило название «суперячейка», а требование добавления этих дополнительных пикселей к базовой элементарной ячейке связано с вычислительной ценой.

Чтобы проиллюстрировать эффект от выбора слишком тонкого среза, рассмотрим простой пример. Пропагатор Френеля описывает распространение электронных волн в направлении z (направлении падающего луча) в твердом теле:

${displaystyle { ilde {phi }}(mathbf {u} ,z)={ ilde {phi }}(mathbf {u} ,z=0)exp(pi ilambda mathbf {u} ^{2}z)}$

Где ${displaystyle mathbf {u} }$ - координата обратной решетки, z - глубина в образце, а лямбда - длина волны электронной волны (связанной с волновым вектором соотношением ${displaystyle k=2pi /lambda }$). На рисунке [fig: SliceThickness] показана векторная диаграмма волновых фронтов, дифрагированных атомными плоскостями в образце. В случае малоуглового приближения (${displaystyle heta sim }$ 100 мрад), мы можем аппроксимировать фазовый сдвиг как ${displaystyle Delta z}$. Для 100 мрад ошибка ${displaystyle d-S}$ порядка 0,5%, поскольку ${displaystyle cos(0.1)=0.995}$. Для малых углов это приближение выполняется независимо от количества срезов, хотя при выборе ${displaystyle Delta z}$ больше, чем параметр решетки (или половина параметра решетки в случае перовскитов) для многосрезового моделирования приведет к отсутствию атомов, которые должны быть в кристаллическом потенциале.

Толщина

Дополнительные практические вопросы заключаются в том, как эффективно включить такие эффекты, как неупругое и диффузное рассеяние, квантованные возбуждения (например, плазмоны, фононы, экситоны) и т. Д. Был один код, который учитывал эти вещи с помощью подхода с использованием функции когерентности. ^[7] называется Another Multislice (YAMS), но код больше не доступен для загрузки или покупки.

Доступное программное обеспечение

Доступно несколько программных пакетов для выполнения многосрезового моделирования изображений. Среди них - NCEMSS, NUMIS, MacTempas и Kirkland. Существуют и другие программы, но, к сожалению, многие из них не поддерживаются (например, SHRLI81 Майка О’Кифа из Национальной лаборатории Лоуренса Беркли и Cerius2 из Accerlys). Краткая хронология мультисрезовых кодов приведена в таблице 2, хотя она ни в коем случае не является исчерпывающей.

Таблица 2 - Временная шкала различных многосрезовых кодов

Кодовое название	Автор	Год выпуска
SHRLI	О’Киф	1978
TEMPAS	Килаас	1987
NUMIS	Метки	1987
НЦЭМС	О’Киф и Килаас	1988
MacTEMPAS	Килаас	1978
TEMSIM	Киркланд	1988
JMULTIS	Цзо	1990
HREMResearch	Ишизука	2001
JEMS	Stadelmann	2004

ACEM / JCSTEM

Это программное обеспечение разработано профессором Эрлом Киркландом из Корнельского университета. Этот код доступен бесплатно как интерактивный Java-апплет и как отдельный код, написанный на C / C ++. Java-апплет идеально подходит для быстрого ознакомления и моделирования в рамках базового приближения некогерентного линейного изображения. Код ACEM сопровождает превосходный одноименный текст Киркланда, в котором подробно описываются основы теории и вычислительные методы моделирования электронных микрофотографий (в том числе мультиспиральных). Основные процедуры C / C ++ используют интерфейс командной строки (CLI) для автоматического пакетирования многих симуляций. Пакет ACEM также включает графический пользовательский интерфейс, который больше подходит для начинающих. Факторы атомного рассеяния в ACEM точно характеризуются 12-параметрическим соответствием гауссианов и лоренцианов релятивистским расчетам Хартри – Фока.

НЦЭМС

Этот пакет был выпущен Национальным центром электронной микроскопии высокого разрешения. Эта программа использует графический пользовательский интерфейс с управлением мышью и написана доктором Роаром Килаасом и доктором Майком О’Киф из Национальной лаборатории Лоуренса Беркли. Хотя код больше не разрабатывается, программа доступна в пакете Electron Direct Methods (EDM), написанном профессором Лоуренсом Марксом из Северо-Западного университета. Факторы Дебая-Валлера может быть включен в качестве параметра для учета диффузного рассеяния, хотя точность неясна (т.е. требуется хорошее предположение фактора Дебая-Валлера).

NUMIS

"NUMIS" перенаправляется сюда. Для британского финансового учреждения см. Нумис.

Система мультиспирации и визуализации Северо-Западного университета (NUMIS ) - это пакет, написанный профессором Лоуренсом Марксом из Северо-Западного университета. Он использует интерфейс командной строки (CLI) и основан на UNIX. Чтобы использовать этот код, необходимо предоставить файл структуры в качестве входных данных, что делает его идеальным для опытных пользователей. Мультисрезовые программы NUMIS используют стандартный мультисрезовый алгоритм, вычисляя волновую функцию электронов на дне кристалла и моделируя изображение с учетом различных параметров, зависящих от прибора, включая ${displaystyle C_{s}}$ и конвергенция. Эту программу удобно использовать, если у вас уже есть файлы структуры для материала, которые использовались в других расчетах (например, в функциональной теории плотности). Эти файлы структуры можно использовать для общих структурных факторов рентгеновского снимка, которые затем используются в качестве входных данных для процедуры PTBV в NUMIS. Параметры микроскопа можно изменить с помощью процедуры MICROVB.

MacTempas

Это программное обеспечение специально разработано для работы в Mac OS X доктором Роаром Килаасом из Национальной лаборатории Лоуренса Беркли. Он разработан с удобным пользовательским интерфейсом и поддерживается в хорошем состоянии по сравнению со многими другими кодами (последнее обновление - май 2013 г.). Доступен (платно) от здесь.

JMULTIS

Это программное обеспечение для многосрезового моделирования было написано на FORTRAN 77 доктором Дж. М. Цзуо, когда он был научным сотрудником в Университете штата Аризона под руководством профессора Дж. Джон К. Х. Спенс. Исходный код опубликован в книге «Электронная микродифракция».^[8] В книге также опубликовано сравнение мультиспирального моделирования и моделирования блоховских волн для ZnTe. Было опубликовано отдельное сравнение нескольких многосрезовых алгоритмов в 2000 году.^[9]

QSTEM

Пакет программного обеспечения для количественного моделирования TEM / STEM (QSTEM) был написан профессором Кристофером Кохом из Берлинский университет имени Гумбольдта в Германии. Позволяет моделировать HAADF, ADF, ABF-STEM, а также обычные TEM и CBED. Исполняемый файл и исходный код доступны для бесплатной загрузки в группе Koch. интернет сайт.

СТВОЛОВАЯ КЛЕТКА

Это код, написанный доктором Винченцо Грилло из Института нанонауки (CNR) в Италии. Этот код, по сути, является графическим интерфейсом для многосрезового кода, написанного Киркландом, с большим количеством дополнительных функций. К ним относятся инструменты для создания сложных кристаллических структур, моделирования изображений HAADF и моделирования зонда STEM, а также моделирования деформации материалов. Также доступны инструменты для анализа изображений (например, GPA) и фильтрации. Код довольно часто обновляется новыми функциями и поддерживается список рассылки пользователей. В свободном доступе на их интернет сайт.

DR. ЗОНДИРОВАТЬ

Моделирование многосрезовых изображений для сканирующей электронной микроскопии с высоким разрешением и когерентной просвечивающей электронной микроскопии, написанное доктором Юри Бартелем из Эрнст Руска-Центр на Исследовательский центр Юлиха. Программное обеспечение включает версию с графическим пользовательским интерфейсом для прямой визуализации расчетов изображений STEM, а также набор модулей командной строки для более сложных расчетных задач. Программы написаны с использованием Visual C ++, Fortran 90 и Perl. Исполняемые двоичные файлы для 32-разрядных и 64-разрядных операционных систем Microsoft Windows доступны бесплатно на сайте интернет сайт.

clTEM

OpenCL ускоряет мультиспиральное программное обеспечение, написанное доктором Адамом Дайсоном и доктором Джонатаном Петерсом из Уорикский университет. clTEM находится в разработке по состоянию на октябрь 2019 года.

cudaEM

cudaEM это код с поддержкой нескольких графических процессоров, основанный на CUDA для многосрезового моделирования, разработанного группой профессора Стивена Пенникука.

Рекомендации

1. Джон М. Коули (1995). Дифракционная физика, 3-е изд.. Издательская компания Северной Голландии.
2. Доктор Эрл Дж. Киркланд. Передовые вычисления в электронной микроскопии.
3. Дж. М. Коули и А. Ф. Муди (1957). «Рассеяние электронов атомами и кристаллами. I. Новый теоретический подход». Acta Crystallographica. 10.
4. П. Гудман и А. Ф. Муди, Acta Crystallogr. 1974, А30, 280
5. Джон К. Х. Спенс (2013). Электронная микроскопия высокого разрешения, 4-е изд.. Издательство Оксфордского университета.
6. Л. М. Пэн, С. Л. Дударев и М. Дж. Уилан (2003). Дифракция электронов высоких энергий и микроскопия. Оксфордские научные публикации.
7. Хайко Мюллер (2000). Подход функции когерентности к моделированию изображения (Кандидат наук.). Vom Fachbereich Physik Technischen Universitat Darmstadt.
8. Электронная микродифракция, Дж. К. Х. Спенс и Дж. М. Цзуо, Пленум, Нью-Йорк, 1992 г.
9. Кох, К. и Дж. М. Цзо, "Сравнение мультисрезовых компьютерных программ для моделирования электронного рассеяния и метода волн Блоха", Микроскопия и микроанализ, Vol. 6 Прил. 2, 126-127, (2000).