Майкл А. Окиф - Michael A. OKeefe - Wikipedia

Для других людей с таким же именем см. Майкл О'Киф (значения).

Майкл А. О'Киф (родился 8 сентября 1942 г., в г. Восточный Мельбурн, Австралия ) - физик, работавший в материаловедение и электронная микроскопия.^[1] Он, пожалуй, наиболее известен созданием оригинального компьютерного кода для моделирования просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения (HRTEM) изображения;^[2] его программное обеспечение позже стало доступным^[3] как часть пакета DeepView^[4] для дистанционной электронной микроскопии^[5] и контроль.^[6] Учебное пособие О'Киф по теории и применению моделирования изображений с помощью электронного микроскопа высокого разрешения доступно в Интернете.^[7]

О'Киф разработал методы количественной оценки качества разрешения и методы получения точных положений атомов по изображениям с высоким разрешением.^[8] Он использовал эти методы, чтобы сделать электронную микроскопию высокого разрешения точной наукой; в дополнение к его более простой роли графического подтверждения наноизмерений, он продемонстрировал ценность ПЭМВР для измерения нано-свойств.^[9] Видео^[10] и связанные слайды^[11] проиллюстрировать роль его работы в предоставлении инструментов для нанотехнологий.

О'Киф спроектировал и разработал одно-Ангстрем микроскоп (OÅM) для Национальный центр электронной микроскопии в Национальная лаборатория Лоуренса Беркли на основе Компания FEI Микроскоп CM300, который он значительно модифицировал для улучшения когерентности и коррекции трехкратного астигматизма. Ему удалось преодолеть «барьер в один Ангстрем» для разрешения, используя комбинацию аппаратной и программной коррекции аберраций микроскопа. Он создал первые изображения HRTEM, чтобы показать углерод атомы, разделенные менее чем на один Ангстрем в алмаз (0,89 Å)^[12] и кремний атомы в кристаллическом кремнии (0,78 Å)^[13]- пример его кремниевой работы размещен на веб-странице Министерства энергетики.^[14] Его OÅM был первым HRTEM, способным отображать мельчайшие атомы металлов (литий ) в литиевая батарея материалы.^[15] Основываясь на его работе по разработке и эксплуатации своего единственногоАнгстрем микроскопа (OÅM), компания O'Keefe разработала дизайн LBNL TEAM (просвечивающий электронный асферический микроскоп), способный разрешать атомы в области глубокого разрешения суб-Ангстрема (менее 0,5 Å) с использованием аппаратного корректора фазы электронных волн (Cs корректор) в сочетании с монохроматором электронного пучка, повышающим когерентность.^[16]

Рекомендации

1. «Архивная копия». Архивировано из оригинал 1 июля 2007 г.. Получено 25 марта 2009.
2. [1]
3. [2]
4. [3]
5. [4]
6. [5], [6]
7. [7]
8. «Архивная копия». Архивировано из оригинал 13 июля 2012 г.. Получено 8 июля 2010.
9. [8]
10. «Архивная копия». Архивировано из оригинал 13 ноября 2008 г.. Получено 26 марта 2009.
11. [9]
12. [10]
13. [11]
14. «Архивная копия». Архивировано из оригинал 1 февраля 2010 г.. Получено 31 января 2010.
15. [12]
16. [13] или же [14]