Сканирующая микроскопия напряжения - Scanning voltage microscopy - Wikipedia

Сканирующая микроскопия напряжения (SVM), иногда также называемый нанопотенциометрия, это научный экспериментальный метод, основанный на атомно-силовая микроскопия. Проводящий зонд, обычно всего несколько нанометры широкий на кончике, полностью контактирует с рабочим электронный или же оптоэлектронный образец. Подключив зонд к высокомусопротивление вольтметр и растрирования по поверхности образца, карта электрический потенциал можно приобрести. SVM, как правило, не разрушает образец, хотя может возникнуть некоторое повреждение образца или зонда, если давление, необходимое для поддержания хорошего электрического контакта, слишком велико. Если входное сопротивление вольтметра достаточно велико, зонд SVM не должен мешать работе рабочего образца.

Приложения

SVM особенно хорошо подходит для анализа микроэлектроника устройства (такие как транзисторы или же диоды ) или же квант электронные устройства (например, квантовая яма диодные лазеры ) прямо потому, что возможно нанометровое пространственное разрешение. SVM также можно использовать для проверки теоретического моделирования сложных электронных устройств.^{[нужна цитата ]}

Например, профиль потенциала в структуре квантовой ямы диодного лазера может быть отображен и проанализирован; такой профиль может указывать на электрон и дыра распределения, в которых генерируется свет, что может привести к усовершенствованию конструкции лазера.

Сканирующая вентильная микроскопия

В аналогичной технике сканирующая вентильная микроскопия (SGM), зонд колеблется с некоторой собственной частотой на некотором фиксированном расстоянии над образцом с приложенным напряжением относительно образца. Изображение строится на основе положения зонда по осям X, Y и проводимости образца без значительного прохождения тока через зонд, который действует как локальный затвор. Изображение интерпретируется как карта чувствительности образца к напряжению затвора. А синхронный усилитель помогает снизить уровень шума, фильтруя только амплитудные колебания, соответствующие частоте вибрации зонда. Приложения включают сайты с дефектами изображения в углеродные нанотрубки и профили легирования в нанопроволоках.