Прямые методы (электронная микроскопия) - Direct methods (electron microscopy)

Эта статья посвящена прямым методам дифракции электронов. О прямых методах рентгеновской дифракции см. Прямые методы (кристаллография).

В кристаллография, прямые методы представляет собой набор методов, используемых для определения структуры с использованием дифракция данные и априори Информация. Это решение кристаллографической фазовая проблема, куда фаза информация теряется во время дифракционного измерения. Прямые методы обеспечивают метод оценки фазовой информации путем установления статистический отношения между записанными амплитуда информация и фазы сильного размышления.

Фон

Фазовая проблема

В электронная дифракция, дифракционная картина создается взаимодействием электронного пучка и кристалл потенциал. В реальное пространство и взаимное пространство информация о Кристальная структура можно связать через преобразование Фурье отношения, показанные ниже, где ${\displaystyle f({\textbf {r}})}$ находится в реальном пространстве и соответствует кристаллическому потенциалу, а ${\displaystyle F({\textbf {k}})}$ - его преобразование Фурье в обратном пространстве. В векторов ${\displaystyle {\textbf {r}}}$ и ${\displaystyle {\textbf {k}}}$ - векторы положения в реальном и обратном пространстве соответственно.

${\displaystyle f({\textbf {r}})=\int _{-\infty }^{\infty }F({\textbf {k}})e^{2\pi i{\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}}dk}$

${\displaystyle F({\textbf {k}})=\int _{-\infty }^{\infty }f({\textbf {r}})e^{-2\pi i{\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}}dr}$

${\displaystyle F({\textbf {k}})}$, также известный как структурный фактор, - преобразование Фурье трехмерный периодическая функция (то есть периодический кристаллический потенциал), и он определяет интенсивность измеряется во время дифракции эксперимент. ${\displaystyle F({\textbf {k}})}$ также можно записать в полярный форма ${\displaystyle F({\textbf {g}})}$, куда ${\displaystyle {\textbf {g}}}$ это конкретное отражение в обратном пространстве. ${\displaystyle F({\textbf {g}})}$ имеет амплитудный член (т.е. ${\displaystyle |F({\textbf {g}})|}$) и фазовый член (т.е. ${\displaystyle e^{i\phi _{g}}}$). Член фазы содержит информацию о позиции в этой форме.

${\displaystyle F({\textbf {g}})=|F({\textbf {g}})|e^{i\phi _{g}}}$

Во время дифракционного эксперимента интенсивность отражений измеряется как ${\displaystyle I({\textbf {g}})}$:

${\displaystyle I({\textbf {g}})=|F({\textbf {g}})|^{2}}$

Это простой метод получения амплитудного члена структурного фактора. Однако фазовый член, который содержит информацию о положении из кристаллического потенциала, теряется.

Аналогично, для дифракции электронов в просвечивающий электронный микроскоп, выход волновая функция пучка электронов из кристалла в реальном и обратном пространстве можно записать соответственно как:

${\displaystyle \psi ({\textbf {r}})=a({\textbf {r}})e^{-i\phi ({\textbf {r}})}}$

${\displaystyle \Psi ({\textbf {u}})=A({\textbf {u}})e^{-i\phi ({\textbf {u}})}}$

Где ${\displaystyle a({\textbf {r}})}$ и ${\displaystyle A({\textbf {u}})}$ являются амплитудными членами, экспоненциальный условия являются фазовыми условиями, и ${\displaystyle {\textbf {u}}}$ вектор обратного пространства. При измерении дифракционной картины можно извлекать только интенсивности. Измерение получает статистическую средний из модули:

${\displaystyle I({\textbf {r}})=\langle |\psi ({\textbf {r}})|^{2}\rangle =\langle |a({\textbf {r}})|^{2}\rangle }$

${\displaystyle I({\textbf {u}})=\langle |\Psi ({\textbf {u}})|^{2}\rangle =\langle |A({\textbf {u}})|^{2}\rangle }$

Здесь также ясно, что фазовые члены теряются при измерении в эксперименте по дифракции электронов. Это называется проблемой кристаллографической фазы.

История

В 1952 г. Дэвид Сэйр представил Уравнение Сейра, конструкция, которая связывает известные фазы определенных дифрагированных лучей для оценки неизвестной фазы другого дифрагированного луча.^[1] В том же номере журнала Acta Crystallographica, Кокран и Захариасен также независимо выведены взаимосвязи между признаками различных структурных факторов.^[2][3] Позже успехи были сделаны другими учеными, в том числе Гауптман и Карле, что привело к присуждению Нобелевская премия в Химия (1985) Хауптману и Карле за разработку прямых методов определения кристаллических структур.^[4]

Сравнение с методами прямого рентгеновского излучения

Большинство прямых методов было разработано для дифракции рентгеновских лучей. Однако дифракция электронов имеет преимущества в нескольких приложениях. Электронная дифракция - это мощный метод анализа и определения характеристик нано- и микрон размер частицы, молекулы, и белки. Хотя дифракция электронов часто динамичный и более сложный для понимания по сравнению с дифракцией рентгеновских лучей, которая обычно кинематический, есть конкретные случаи (подробно описаны ниже), которые имеют достаточные условия для применения прямых методов определения структуры.

Теория

Унитарное уравнение Сейра

Сайр уравнение был разработан при определенных предположениях, взятых из информации о кристаллической структуре, в частности, что все атомы считаются идентичными и существует минимальное расстояние между атомами.^[1] Ключевой концепцией уравнения Сейра, получившего название «метод возведения в квадрат», является возведение в квадрат электронная плотность Функция (для дифракции рентгеновских лучей) или функция потенциала кристалла (для дифракции электронов) приводит к функции, которая напоминает исходную неквадратную функцию идентичных и разрешенных пиков. Тем самым он усиливает атомоподобные свойства кристалла.

Учитывайте структурный фактор ${\displaystyle F({\textbf {k}})}$ в следующем виде, где ${\displaystyle f({\textbf {k}})}$ это фактор атомного рассеяния для каждого атома в позиции ${\displaystyle {\textbf {k}}}$, и ${\displaystyle {\textbf {r}}}$ это положение атома ${\displaystyle l}$:

${\displaystyle F({\textbf {k}})=\sum _{l}f({\textbf {k}})e^{2\pi {\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}_{l}}}$

Это можно преобразовать в унитарный структурный фактор ${\displaystyle U({\textbf {k}})}$ разделив на N (количество атомов) и ${\displaystyle f({\textbf {k}})}$:

${\displaystyle U({\textbf {k}})={\frac {1}{N}}\sum _{l}e^{2\pi {\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}_{l}}}$

В качестве альтернативы это можно переписать в реальном и обратном пространстве как:

${\displaystyle u({\textbf {r}})={\frac {1}{N}}\sum _{l}\delta ({\textbf {r}}-{\textbf {r}}_{l})=Nu({\textbf {r}})^{2}}$

${\displaystyle U({\textbf {k}})=N\sum _{h}U({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})}$

Уравнение ~ ref {eqn: sayre} является разновидностью уравнения Сейра. Исходя из этого уравнения, если фазы ${\displaystyle U({\textbf {k-h}})}$ и ${\displaystyle U({\textbf {h}})}$ известны, то фаза ${\displaystyle U({\textbf {k}})}$ известен.

Соотношение фаз триплета

Триплетное фазовое соотношение - это уравнение, напрямую связывающее две известные фазы дифрагированных лучей с неизвестной фазой другого. Это соотношение можно легко вывести с помощью уравнения Сэра, но оно также может быть продемонстрировано с помощью статистических соотношений между дифрагированными лучами, как показано здесь.

За случайно распределенных атомов справедливо следующее:

${\displaystyle N\langle U({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})\rangle ={\frac {1}{N}}\sum _{l}e^{2\pi i{\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}_{l}}=U({\textbf {k}})}$

Это означает, что если:

${\displaystyle U({\textbf {k}})\approx N\langle U({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})\rangle }$

Потом:

${\displaystyle |U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}})|^{2}=|U({\textbf {k}})|^{2}+N^{2}|U({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})|^{2}-2N|U({\textbf {k}})U({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})|\times cos(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))}$

В приведенном выше уравнении ${\displaystyle \langle |U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}})|^{2}\rangle =0}$ и модули известны в правой части. Единственные неизвестные термины содержатся в косинус термин, включающий фазы. В Центральная предельная теорема может быть применен здесь, что устанавливает, что распределения как правило Гауссовский сообщить. Комбинируя члены известных модулей, можно записать функцию распределения, которая зависит от фаз:

${\displaystyle P(U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}}))\approx Ce^{-|U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}})|^{2}}}$

${\displaystyle P(U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}}))\approx De^{2N|U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}})|\times cos(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))}}$

Это распределение известно как распределение Кохрана.^[5] В стандартное отклонение за это Функция Гаусса масштабируется с обратной величиной унитарных структурных факторов. Если они большие, то сумма в члене косинуса должна быть:

${\displaystyle \phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}})\approx 2n\pi ,~~n=0,1,2...}$

${\displaystyle \phi ({\textbf {k}})\approx \phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}})}$

Это называется триплетным фазовым соотношением (${\displaystyle \Sigma _{2}}$). Если фазы ${\displaystyle \phi ({\textbf {k-h}})}$ и ${\displaystyle \phi ({\textbf {h}})}$ известны, то фаза ${\displaystyle \phi ({\textbf {k}})}$ можно оценить.

Формула касательной

Формула касательной была впервые выведена в 1955 году Джеромом Карле и Гербертом Хауптманом.^[4] Он связывает амплитуды и фазы известных дифрагированных лучей с неизвестной фазой другого. Здесь он получен с использованием распределения Кохрана.

${\displaystyle \prod _{h}P(U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}}))\approx 2NCe^{\sum _{h}|U({\textbf {k}})U({\textbf {k-h}})U({\textbf {k}})|\times cos(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))}}$

Наиболее вероятное значение ${\displaystyle \phi ({\textbf {h}})}$ можно найти, взяв производную от приведенного выше уравнения, что дает вариант касательной формулы:^[6]

${\displaystyle tan(\varphi ({\textbf {k}}))\approx {\frac {\sum _{h}|U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})|sin\phi ({\textbf {k-h}})+\phi ({\textbf {h}})}{\sum _{h}|U({\textbf {k}})-NU({\textbf {k-h}})U({\textbf {h}})|cos\phi ({\textbf {k-h}})+\phi ({\textbf {h}})}}}$

Практические соображения

В основе проблемы фазы лежит то, что информация о фазе более важна, чем информация об амплитуде при восстановлении изображения. Это связано с тем, что фазовый член структурного фактора содержит позиции. Однако информацию о фазе не нужно извлекать полностью точно. Часто даже с ошибками в фазах возможно полное определение структуры. Точно так же ошибки амплитуды не сильно повлияют на точность определения структуры.

Достаточные условия

Чтобы применить прямые методы к набору данных для успешного определения структуры, должны быть разумные достаточные условия, которым удовлетворяют экспериментальные условия или свойства образца. Здесь описаны несколько случаев.^[6]

• Кинематическая дифракция
  

Одна из причин, по которой прямые методы были первоначально разработаны для анализа дифракции рентгеновских лучей, заключается в том, что почти вся дифракция рентгеновских лучей является кинематической. Хотя большая часть дифракции электронов носит динамический характер, что труднее интерпретировать, есть случаи, когда в основном кинематические рассеяние интенсивности можно измерить. Одним из конкретных примеров является поверхностная дифракция при ориентации на виде сверху. При анализе поверхности образца в виде сверху образец часто наклоняют относительно оси зоны, чтобы изолировать дифрагированные лучи поверхности от лучей в объеме. Достижение кинематических условий в большинстве случаев затруднено - для минимизации динамической дифракции требуются очень тонкие образцы.

• Статистическая кинематическая дифракция
  

Несмотря на то, что большинство случаев дифракции электронов являются динамическими, все же возможно достичь рассеяния, которое носит статистически кинематический характер. Это то, что позволяет анализировать аморфный и биологические материалы, где динамическое рассеяние на случайных фазах в сумме почти кинематическое. Более того, как объяснялось ранее, совершенно не критично получать информацию о фазе полностью. Ошибки в информации о фазах допустимы.

Вспоминая распределение Кохрана и учитывая логарифм этого распределения:

${\displaystyle D(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))=A({\textbf {k,h}}){\sqrt[{}]{I({\textbf {k}})I({\textbf {k-h}})I({\textbf {h}})}}\times cos(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))}$

${\displaystyle D(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))=B({\textbf {k,h}})cos(\phi ({\textbf {k}})-\phi ({\textbf {k-h}})-\phi ({\textbf {h}}))}$

В приведенном выше распределении ${\displaystyle A({\textbf {k}})}$ содержит нормализация термины, ${\displaystyle I({\textbf {k}})}$ члены - экспериментальные интенсивности, а ${\displaystyle B({\textbf {k,h}})}$ содержит оба из них для простоты. Здесь наиболее вероятные фазы максимизируют функцию ${\displaystyle D({\textbf {k,h}})}$. Если интенсивности достаточно велики, а сумма в косинусном члене остается ${\displaystyle \approx 0}$, тогда ${\displaystyle B({\textbf {k,h}})}$ также будет большим, что позволит максимизировать ${\displaystyle D({\textbf {k,h}})}$. С таким узким распределением, как это, данные о рассеянии будут статистически находиться в пределах кинематического рассмотрения.

• Отображение интенсивности
  

Рассмотрим два рассеянных луча с разной интенсивностью. Величина их интенсивности тогда должна быть связана с амплитудой соответствующих им факторов рассеяния соотношением:

${\displaystyle I({\textbf {k}})>I({\textbf {k'}})~~iff~|F({\textbf {k}})|>|F({\textbf {k'}})|}$

Позволять ${\displaystyle T({\textbf {k}}}$) - функция, связывающая интенсивность с фазой для того же луча, где ${\displaystyle N({\textbf {k}})}$ содержит термины нормализации:

${\displaystyle T({\textbf {k}})=e^{i\phi ({\textbf {k}})}{\sqrt[{}]{I({\textbf {k}})}}/N({\textbf {k}})}$

Тогда распределение ${\displaystyle T({\textbf {k}})}$ значения будут напрямую связаны со значениями ${\displaystyle F({\textbf {k}})}$. То есть, когда товар ${\displaystyle |F({\textbf {k}})F({\textbf {k-h}})F({\textbf {h}})|}$ большой или маленький, ${\displaystyle |T({\textbf {k}})T({\textbf {k-h}})T({\textbf {h}})|}$ тоже будут большие и маленькие. Таким образом, наблюдаемые интенсивности можно использовать для разумной оценки фаз дифрагированных пучков. Наблюдаемую интенсивность можно более формально связать со структурным фактором, используя Blackman формула.^[7]

Другие случаи, которые следует учитывать при картировании интенсивности, - это конкретные дифракционные эксперименты, включая порошковая дифракция и прецессионная дифракция электронов. В частности, прецессионная дифракция электронов дает квазикинематическую дифракционную картину, которую можно адекватно использовать в прямых методах.

• Преобладающее рассеяние
  

В некоторых случаях в рассеянии от образца может преобладать один тип атомов. Следовательно, волна выхода из образца также будет определяться этим типом атомов. Например, на выходе волны и интенсивности образца преобладают ченнелинг можно записать в обратном пространстве в виде:

${\displaystyle \Psi ({\textbf {k}})=A({\textbf {k}})\sum _{l}e^{2\pi i{\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}_{l}}}$

${\displaystyle I({\textbf {k}})=|A({\textbf {k}})|^{2}{\bigg |}\sum _{l}e^{2\pi i{\textbf {k}}\cdot {\textbf {r}}_{l}}{\bigg |}^{2}}$

${\displaystyle A({\textbf {k}})}$ - преобразование Фурье ${\displaystyle a({\textbf {r}})}$, который сложный и представляет собой форму атома, заданную каналом состояния (например, 1, 2 и т. д.). ${\displaystyle A({\textbf {k}})}$ реальна в обратном пространстве и сложна в плоскости объекта. Если ${\displaystyle B({\textbf {k}})}$, а сопряженный симметричный функция заменяется на ${\displaystyle A({\textbf {k}})}$, то можно получить атомоподобные особенности объекта самолет:

${\displaystyle B({\textbf {k}})=S({\textbf {k}})|A({\textbf {k}})|,where~S({\textbf {k}})=\pm 1}$

В объектной плоскости преобразование Фурье ${\displaystyle B({\textbf {k}})}$ будет реальным и симметричным псевдоатомом (${\displaystyle b({\textbf {r}})}$) в атомных столбцах. ${\displaystyle b({\textbf {r}})}$ будет удовлетворять атомистическим ограничениям, пока они достаточно малы и хорошо разделены, тем самым удовлетворяя некоторым ограничениям, необходимым для реализации прямых методов.

Выполнение

Прямые методы - это набор процедур для определения структуры. Чтобы успешно решить проблему структуры, несколько алгоритмы были разработаны для прямых методов. Некоторые из них описаны ниже.

Герхберг-Сакстон

В Алгоритм Гершберга-Сакстона изначально был разработан Гершбергом и Сакстоном для определения фазы волновых функций с интенсивностями, известными как в плоскости дифракции, так и в плоскости изображения.^[8] Однако он был обобщен для любой информации в реальном или обратном пространстве. Подробное обобщение с использованием информации дифракции электронов. Как показано на изображении справа,^[6] можно последовательно накладывать реальные пространственные и взаимные ограничения на начальную оценку до тех пор, пока она не сходится к допустимому решению.

Обобщенный алгоритм Герхберга-Сакстона для прямых методов с дифракцией электронов. Последовательно применяя ограничения, алгоритм в конечном итоге сойдется к возможному решению. Изменено с.^[6]

Ограничения

Ограничения могут быть физическими или статистическими. Например, тот факт, что данные получены в результате эксперимента по рассеянию в просвечивающем электронном микроскопе, накладывает несколько ограничений, включая атомарность, длина облигаций, симметрия, и помехи. Ограничения также могут быть статистическими по происхождению, как было показано ранее с распределением Кохрана и соотношением фаз триплета (${\displaystyle \Sigma _{2}}$).

По мнению Combettes, проблемы с восстановлением изображений можно рассматривать как выпуклая выполнимость проблема.^[9] Эта идея была адаптирована Марксом и другие. к кристаллографической фазовой проблеме.^[10] С возможный набор подход, ограничения могут быть рассмотрены выпуклый (сильно сходящийся) или невыпуклый (слабо сходящийся). Наложение этих ограничений с помощью алгоритма, подробно описанного ранее, может сходиться к уникальному или неуникальному решения, в зависимости от выпуклости ограничений.

Примеры

Прямые методы с наборами данных дифракции электронов использовались для решения различных структур. Как упоминалось ранее, поверхности - это один из тех случаев в дифракции электронов, где рассеяние является кинематическим. Таким образом, многие структуры поверхности были определены с помощью прямых методов как рентгеновской дифракции, так и электронной дифракции, включая многие из кремний, оксид магния, германий, медь, и титанат стронция поверхности.^[11][12][13]

Совсем недавно были разработаны методы автоматизированной трехмерной электронной дифракции, такие как автоматизированные методы дифракции электронов. дифракционная томография и вращательная дифракция электронов. Эти методы использовались для получения данных для решения структуры прямыми методами и применялись для цеолиты, термоэлектрики, оксиды, металлоорганические каркасы, органические соединения, и интерметаллиды.^[14] В некоторых из этих случаев структуры были решены в сочетании с данными дифракции рентгеновских лучей, что сделало их дополнительными методами.

Кроме того, были достигнуты определенные успехи в использовании прямых методов определения структуры с помощью криоэлектронная микроскопия техника Дифракция электронов на микрокристаллах (MicroED).^[15] MicroED используется для различных материалов, включая фрагменты кристаллов, белки и ферменты.^[16]

Программного обеспечения

DIRDIF

DIRDIF - это компьютерная программа для определения структуры с помощью Функция Паттерсона и прямые методы, применяемые к факторам разностной структуры. Впервые он был выпущен Полом Бёркенсом и его коллегами из Университет Неймегена в 1999 году. Написано на Фортран и последний раз обновлялся в 2008 году. Его можно использовать для структур с тяжелыми атомами, структур молекул с частично известной геометрией, а также для некоторых специальных структур. Подробную информацию можно найти на его сайте: http://www.xtal.science.ru.nl/dirdif/software/dirdif.html.

EDM

Eлектрон Dпрямой Methods - это набор программ, разработанных в Северо-Западный университет профессором Лоуренс Маркс. Впервые выпущенный в 2004 году, его последним выпуском была версия 3.1 в 2010 году. Написано на C ++, C, и Fortran 77, EDM способен выполнять обработку изображений, полученных с помощью электронной микроскопии с высоким разрешением, а также дифракционных картин и прямых методов. Имеет стандартный Лицензия GNU и его можно свободно использовать или изменять для некоммерческий целей. Он использует подход, основанный на возможных наборах ^[10] и генетический алгоритм поиск решающих структур прямыми методами, а также просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения возможности моделирования изображения. Более подробную информацию можно найти на сайте: http://www.numis.northwestern.edu/edm/index.shtml.

ОАЗИС

ОАЗИС был впервые написан несколькими учеными из Китайская Академия Наук в Fortran 77. Самый последний выпуск - версия 4.2, выпущенная в 2012 году. Это программа для фазирования структур белков с помощью прямых методов. В акроним OASIS означает два своих приложения: поэтапное Оne-длина волны Аномальный Sрассыпание или SIngle ясоморфный Sданные об замене белков. Он сводит фазовую проблему к проблеме знака, определяя местонахождение атомных позиций аномальных рассеивателей или замещений тяжелых атомов. Более подробную информацию можно найти на сайте: http://cryst.iphy.ac.cn/Project/IPCAS1.0/user_guide/oasis.html.

СЭР

SIR (Семинварианты Представление) был разработан набор программ для решения кристаллических структур малых молекул. SIR часто обновляется и выпускается, первый выпуск - в 1988 г., а последний - в 2014 г. Он поддерживает оба ab initio и неab-initio прямые методы. Программа написана на Fortran и C ++ и бесплатна для академического использования. SIR можно использовать для определения кристаллической структуры молекул и белков малого и среднего размера по данным рентгеновской или электронной дифракции. Более подробную информацию можно найти на его веб-сайте: http://www.ba.ic.cnr.it/softwareic/sir2014/.

Смотрите также

• Кристаллография
• Просвечивающая электронная микроскопия
• Дифракция
• Прецессионная дифракция электронов
• Динамическая дифракция
• Электронная кристаллография
• Электронная дифракция
• Дифракция электронов на микрокристаллах

Рекомендации

1. Сейр, Д. (1 января 1952 г.). «Метод возведения в квадрат: новый метод определения фазы». Acta Crystallographica. 5 (1): 60–65. Дои:10.1107 / S0365110X52000137.
2. Кокран, В. (1 января 1952 г.). «Соотношение между признаками структурных факторов». Acta Crystallographica. 5 (1): 65–67. Дои:10.1107 / S0365110X52000149.
3. Захариасен, В. Х. (1 января 1952 г.). «Новый аналитический метод решения сложных кристаллических структур». Acta Crystallographica. 5 (1): 68–73. Дои:10.1107 / S0365110X52000150.
4. Karle, J .; Хауптман, Х. (1 августа 1956 г.). «Теория определения фазы для четырех типов нецентросимметричных пространственных групп 1п222, 2п22, 3п₁2, 3п₂2". Acta Crystallographica. 9 (8): 635–651. Дои:10.1107 / S0365110X56001741.
5. Кокран, У. (10 августа 1955 г.). «Соотношение фаз структурных факторов». Acta Crystallographica. 8 (8): 473–478. Дои:10.1107 / S0365110X55001485.
6. Marks, L.D .; Синклер, В. (16 сентября 2003 г.). «Достаточные условия для прямых методов с быстрыми электронами». Микроскопия и микроанализ. 9 (5): 399–410. Дои:10.1017 / S1431927603030332.
7. Блэкман, М. (10 ноября 1939 г.). "Об интенсивностях электронографических колец". Труды Королевского общества A: математические, физические и инженерные науки. 173 (952): 68–82. Дои:10.1098 / rspa.1939.0129.
8. Gerchberg, R.W .; Сакстон, У. О. (29 ноября 1971 г.). «Практический алгоритм определения фазы по изображениям и изображениям дифракционной плоскости». Optik. 35 (2): 237–246.
9. Комбетс, П. Л. (1 января 1996 г.). Проблема выпуклой выполнимости при восстановлении изображений. Достижения в области визуализации и электронной физики. 95. Эльзевир. С. 155–270. CiteSeerX  10.1.1.75.9091. Дои:10.1016 / S1076-5670 (08) 70157-5. ISBN  9780120147373.
10. Marks, L.D .; Sinkler, W .; Ландри, Э. (1 июля 1999 г.). «Возможный комплексный подход к кристаллографической фазовой проблеме». Acta Crystallographica Раздел A. 55 (4): 601–612. Дои:10.1107 / S0108767398014408. PMID  10927270.
11. Marks, L.D .; Bengu, E .; Collazo-Davila, C .; Grozea, D .; Landree, E .; Лесли, К .; Синклер, В. (октябрь 1998 г.). «Прямые методы для поверхностей». Обзор и письма Surface. 05 (5): 1087–1106. Дои:10.1142 / S0218625X98001444.
12. Erdman, N .; Poeppelmeier, K. R .; Asta, M .; Warschkow, O .; Эллис, Д. Э .; Маркс, Л. Д. (5 сентября 2002 г.). «Структура и химия богатой TiO2 поверхности SrTiO3 (001)». Природа. 419 (6902): 55–58. Дои:10.1038 / природа01010. PMID  12214229.
13. Kienzle, Danielle M .; Маркс, Лоуренс Д. (2012). «Дифракция электронов на просвет на поверхности SrTiO3». CrystEngComm. 14 (23): 7833. Дои:10.1039 / c2ce25204j.
14. Yun, Y .; Zou, X .; Hovmöller, S .; Ван, В. (10 февраля 2015 г.). «Трехмерная дифракция электронов как дополнительный метод к порошковой дифракции рентгеновских лучей для идентификации фаз и определения структуры порошков». IUCrJ. 2 (2): 267–282. Дои:10.1107 / S2052252514028188. ЧВК  4392419. PMID  25866663.
15. де ла Крус, М. Дж .; Hattne, J .; Ши, Д .; Seidler, P .; Rodriguez, J .; Reyes, F.E .; Sawaya, M. R .; Cascio, D .; Weiss, S.C .; Kim, S.K .; Hinck, C.S .; Hinck, A. P .; Calero, G .; Eisenberg, D .; Гонен, Т. (13 февраля 2017 г.). «Структуры с атомным разрешением из фрагментированных кристаллов белка с помощью метода криоЭМ MicroED». Методы природы. 14 (4): 399–402. Дои:10.1038 / nmeth.4178. ЧВК  5376236. PMID  28192420.
16. Nannenga, Brent L .; Гонен, Тамир (06.02.2018). «MicroED: универсальный криоЭМ-метод определения структуры». Новые темы наук о жизни. 2 (1): 1–8. Дои:10.1042 / etls20170082. ISSN  2397-8554. ЧВК  6112783. PMID  30167465.