Список методов анализа материалов - List of materials analysis methods - Wikipedia

Список методов анализа материалов:

• μSR - видеть Спиновая мюонная спектроскопия
• χ - видеть Магнитная восприимчивость

А

• Аналитическое ультрацентрифугирование – Аналитическое ультрацентрифугирование
• ААС – Атомно-абсорбционная спектроскопия
• AED – Оже электронная дифракция
• AES – Оже-электронная спектроскопия
• AFM – Атомно-силовая микроскопия
• AFS – Атомно-флуоресцентная спектроскопия
• APFIM – Атомно-зондовая полевая ионная микроскопия
• APS – Спектроскопия внешнего вида
• ARPES – Фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением
• ARUPS – Ультрафиолетовая фотоэмиссионная спектроскопия с угловым разрешением
• ATR – Ослабленное полное отражение

B

• ДЕРЖАТЬ ПАРИ – Измерение площади поверхности по БЭТ (СТАВКА от Брунауэра, Эммета, Теллера)
• BiFC – Комплементация бимолекулярной флуоресценции
• BKD - Дифракция Кикучи обратного рассеяния, см. EBSD
• BRET – Биолюминесцентный резонансный перенос энергии
• BSED - Дифракция обратно рассеянных электронов, см. EBSD

C

• CAICISS – Коаксиальная ударно-столкновительная спектроскопия рассеяния ионов
• ЛЕГКОВЫЕ АВТОМОБИЛИ – Когерентная антистоксовая рамановская спектроскопия
• CBED – Дифракция электронов на сходящемся пучке
• СКК – Микроскопия сбора заряда
• CDI – Когерентная дифракционная визуализация
• CE – Капиллярный электрофорез
• CET – Криоэлектронная томография
• CL – Катодолюминесценция
• CLSM – Конфокальная лазерная сканирующая микроскопия
• УЮТНЫЙ – Корреляционная спектроскопия
• Крио-ЭМ – Крио-электронная микроскопия
• Крио-СЭМ – Крио-сканирующая электронная микроскопия
• резюме – Циклическая вольтамперометрия

D

• DE (T) A – Диэлектрический термический анализ
• dHvA – Эффект Де Хааса – ван Альфена
• DIC – Дифференциальная интерференционная контрастная микроскопия
• Диэлектрическая спектроскопия – Диэлектрическая спектроскопия
• DLS – Динамическое рассеяние света
• DLTS – Переходная спектроскопия глубокого уровня
• DMA – Динамический механический анализ
• DPI – Двойная поляризационная интерферометрия
• DRS – Диффузное отражение спектроскопия
• DSC – Дифференциальная сканирующая калориметрия
• DTA – Дифференциальный термический анализ
• DVS – Динамическая сорбция паров

E

• EBIC – Ток, индуцированный электронным пучком (и см. IBIC: заряд, индуцированный ионным пучком)
• EBS - Спектрометрия упругого (нерезерфордовского) обратного рассеяния (см. RBS)
• EBSD – Дифракция обратного рассеяния электронов
• ЭКОСИ – Эксклюзивная корреляционная спектроскопия
• ECT – Электроемкостная томография
• EDAX – Энергодисперсионный анализ рентгеновских лучей
• EDMR – Электрический магнитный резонанс см. СОЭ или ЭПР
• EDS или же EDX – Энергодисперсионная рентгеновская спектроскопия
• УГРЕЙ – Спектроскопия потерь энергии электронов
• EFTEM – Просвечивающая электронная микроскопия с энергетическим фильтром
• EID – Электронно-индуцированная десорбция
• EIT и ERT – Электроимпедансная томография и Томография электрического сопротивления
• EL – Электролюминесценция
• Электронная кристаллография – Электронная кристаллография
• ELS – Электрофоретическое рассеяние света
• ENDOR – Электронно-ядерный двойной резонанс см. СОЭ или ЭПР
• EPMA – Электронно-зондовый микроанализ
• EPR – Спектроскопия электронного парамагнитного резонанса
• ERD или же ERDA – Обнаружение упругой отдачи или же Анализ обнаружения упругой отдачи
• ESCA – Электронная спектроскопия для химического анализа * см. XPS
• ESD – Электронно-стимулированная десорбция
• ESEM – Сканирующая электронная микроскопия окружающей среды
• ESI-MS или же ES-MS – Электрораспылительная ионизационная масс-спектрометрия или масс-спектрометрия с электрораспылением
• СОЭ – Спектроскопия электронного спинового резонанса
• ESTM – Электрохимическая сканирующая туннельная микроскопия
• EXAFS – Расширенная тонкая структура поглощения рентгеновского излучения
• EXSY – Обменная спектроскопия

F

• FCS – Флуоресцентная корреляционная спектроскопия
• FCCS – Флуоресцентная кросс-корреляционная спектроскопия
• МКЭ – Автоэмиссионная микроскопия
• FIB – Сфокусированный ионный пучок микроскопия
• FIM-AP – Полевая ионная микроскопия –атомный зонд
• Двойное лучепреломление потока – Двойное лучепреломление потока
• Анизотропия флуоресценции – Анизотропия флуоресценции
• FLIM – Визуализация времени жизни флуоресценции
• Флуоресцентная микроскопия – Флуоресцентная микроскопия
• ФОСПМ – Функционально-ориентированная сканирующая зондовая микроскопия
• FRET – Флуоресцентный резонансный перенос энергии
• ФРС - Спектрометрия прямой отдачи, синоним ERD
• FTICR или же FT-MS – Ионный циклотронный резонанс с преобразованием Фурье или масс-спектрометрия с преобразованием Фурье
• FTIR – Инфракрасная спектроскопия с преобразованием Фурье

грамм

• ГХ-МС – Газовая хроматография-масс-спектрометрия
• GDMS – Масс-спектрометрия тлеющего разряда
• GDOS – Оптическая спектроскопия тлеющего разряда
• GISAXS – Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей при скользящем падении
• GIXD – Дифракция рентгеновских лучей при скользящем падении
• GIXR – Коэффициент отражения рентгеновских лучей при скользящем падении
• GLC – Газожидкостная хроматография

ЧАС

• HAADF - высокий угол кольцевое изображение в темном поле
• ИМЕЕТ – Рассеяние атома гелия
• ВЭЖХ – Высокоэффективная жидкостная хроматография
• HREELS – Спектроскопия потерь энергии электронов высокого разрешения
• HREM – Электронная микроскопия высокого разрешения
• HRTEM – Просвечивающая электронная микроскопия высокого разрешения
• HI-ERDA – Анализ обнаружения упругой отдачи тяжелых ионов
• HE-PIXE – Рентгеновское излучение, индуцированное протонами высоких энергий

я

• IAES – Ионно-индуцированная электронная оже-спектроскопия
• IBA – Анализ ионных пучков
• IBIC – Заряд, индуцированный ионным пучком микроскопия
• ICP-AES – Атомно-эмиссионная спектроскопия с индуктивно связанной плазмой
• ИСП-МС – Масс-спектрометрия с индуктивно связанной плазмой
• Иммунофлуоресценция – Иммунофлуоресценция
• ICR – Ионный циклотронный резонанс
• IETS – Неупругая электронная туннельная спектроскопия
• IGA – Интеллектуальный гравиметрический анализ
• IGF – Термоядерный синтез в инертном газе
• IIX - Ионно-индуцированный рентгеновский анализ: см. Рентгеновское излучение, индуцированное частицами
• INS – Спектроскопия ионной нейтрализации
  Неупругое рассеяние нейтронов
• IRNDT – Инфракрасный неразрушающий контроль материалов
• IRS – ИК-спектроскопия
• МКС – Спектроскопия ионного рассеяния
• ITC – Изотермическая калориметрия титрования
• IVEM – Электронная микроскопия среднего напряжения

L

• LALLS – Малоугловое рассеяние лазерного света
• ЖХ-МС – Жидкостная хроматография-масс-спектрометрия
• LEED – Дифракция низкоэнергетических электронов
• ЛИМ – Электронная микроскопия низких энергий
• LEIS – Рассеяние низкоэнергетических ионов
• LIBS – Спектроскопия лазерного пробоя
• LOES – Лазерная оптико-эмиссионная спектроскопия
• LS – Световое (рамановское) рассеяние

M

• МАЛДИ – Матричная лазерная десорбция / ионизация
• MBE – Молекулярно-лучевая эпитаксия
• Я ЕСТЬ – Рассеяние ионов средней энергии
• MFM – Магнитно-силовая микроскопия
• Массачусетский технологический институт – Магнитно-индукционная томография
• MPM – Многофотонная флуоресцентная микроскопия
• MRFM – Магнитно-резонансная силовая микроскопия
• МРТ – Магнитно-резонансная томография
• РС – Масс-спектрометрии
• МС / МС – Тандемная масс-спектрометрия
• MSGE – Механически стимулированный выброс газа
• Мессбауэровская спектроскопия – Мессбауэровская спектроскопия
• MTA – Микротермический анализ

N

• NAA – Нейтронно-активационный анализ
• Нановидная микроскопия – Нановидная микроскопия
• ND – Нейтронная дифракция
• Пнр – Профилирование нейтронной глубины
• NEXAFS – Тонкая структура поглощения рентгеновских лучей вблизи края
• Шекелей – Ядерно-неупругое рассеяние / поглощение
• ЯМР – Спектроскопия ядерного магнитного резонанса
• NOESY – Ядерная спектроскопия эффекта Оверхаузера
• NRA – Анализ ядерных реакций
• НСОМ – Оптическая микроскопия ближнего поля

О

• OBIC – Ток, индуцированный оптическим лучом
• ODNMR - Оптически обнаруженный магнитный резонанс, см. ESR или EPR
• OES – Оптическая эмиссионная спектроскопия
• Осмометрия – Осмометрия

п

• PAS – Спектроскопия аннигиляции позитронов
• Фотоакустическая спектроскопия – Фотоакустическая спектроскопия
• PAT или же ПАКТ – Фотоакустическая томография или фотоакустическая компьютерная томография
• PAX – Фотоэмиссия адсорбированного ксенона
• ПК или ПК – Фототоковая спектроскопия
• Фазово-контрастная микроскопия – Фазово-контрастная микроскопия
• кандидат наук – Фотоэлектронная дифракция
• PD – Фотодесорбция
• PDEIS – Потенциодинамическая электрохимическая импедансная спектроскопия
• PDS – Фототермическая спектроскопия отклонения
• PED – Фотоэлектронная дифракция
• Корки - параллельно спектроскопия потерь энергии электронов
• PEEM – Фотоэмиссионная электронная микроскопия (или фотоэлектронная эмиссионная микроскопия)
• PES – Фотоэлектронная спектроскопия
• ПИНЕМ – фотонно-индуцированная электронная микроскопия в ближнем поле
• СВИНЬЯ - Спектроскопия гамма-излучения, индуцированная частицами (или протонами), см. Анализ ядерных реакций
• ПИКС – Рентгеновская спектроскопия, индуцированная частицами (или протонами)
• PL – Фотолюминесценция
• Порозиметрия – Порозиметрия
• Порошковая дифракция – Порошковая дифракция
• PTMS – Фототермическая микроскопия
• PTS – Фототермическая спектроскопия

Q

• QENS – Квазиупругое рассеяние нейтронов

р

• Раман – Рамановская спектроскопия
• RAXRS – Резонансное аномальное рассеяние рентгеновских лучей
• RBS – Спектрометрия резерфордского обратного рассеяния
• REM – Отражательная электронная микроскопия
• RDS – Спектроскопия разности отражений
• RHEED – Отражение дифракции электронов высоких энергий
• ДИСКИ – Резонансная ионизационная масс-спектрометрия
• RIXS – Резонансное неупругое рассеяние рентгеновских лучей
• Спектроскопия RR – Резонансная рамановская спектроскопия

S

• ГРУСТНЫЙ – Дифракция выбранной области
• SAED – Электронная дифракция в выбранной области
• СЭМ – Сканирующая оже-микроскопия
• SANS – Малоугловое рассеяние нейтронов
• SAXS – Малоугловое рассеяние рентгеновских лучей
• СКАНИИР – Состав поверхности по анализу нейтральных частиц и ионного излучения
• SCEM – Сканирующая конфокальная электронная микроскопия
• SE – Спектроскопическая эллипсометрия
• SEC – Эксклюзионная хроматография
• SEIRA – Инфракрасная абсорбционная спектроскопия с улучшенной поверхностью
• SEM – Сканирующая электронная микроскопия
• SERS – Рамановская спектроскопия с усилением поверхности
• SERRS – Рамановская спектроскопия с усилением резонанса поверхности
• СЕСАНЫ – Малоугловое рассеяние нейтронов спинового эха
• СЕКСАФЫ – Тонкая структура поглощения рентгеновского излучения на поверхности
• SICM – Сканирующая ионно-проводящая микроскопия
• SIL – Твердая иммерсионная линза
• SIM – Твердое иммерсионное зеркало
• SIMS – Масс-спектрометрия вторичных ионов
• SNMS – Масс-спектрометрия распыленных нейтральных частиц
• СБОМ – Сканирующая ближнепольная оптическая микроскопия
• ОФЭКТ – Однофотонная эмиссионная компьютерная томография
• SPM – Сканирующая зондовая микроскопия
• SRM-CE / MS - Выборочная реакция-мониторинг капиллярный электрофорез масс-спектрометрии
• SSNMR – Твердотельный ядерный магнитный резонанс
• Штарковская спектроскопия – Штарковская спектроскопия
• STED – Микроскопия с вынужденной эмиссией и истощением
• КОРЕНЬ – Сканирующая просвечивающая электронная микроскопия
• СТМ – Сканирующая туннельная микроскопия
• СТС – Сканирующая туннельная спектроскопия
• SXRD – Дифракция поверхностных рентгеновских лучей (SXRD)

Т

• ТАТ или же ТАКТ – Термоакустическая томография или термоакустическая компьютерная томография (см. также фотоакустическая томография - PAT)
• ТЕМ – просвечивающий электронный микроскоп / микроскопия
• TGA – Термогравиметрический анализ
• ТИКА - Кинетический анализ передающих ионов
• TIMS – Термоионизационная масс-спектрометрия
• TIRFM – Флуоресцентная микроскопия полного внутреннего отражения
• TLS – Фототермическая линзовая спектроскопия, тип Фототермическая спектроскопия
• TMA – Термомеханический анализ
• TOF-MS – Времяпролетная масс-спектрометрия
• Микроскопия с двухфотонным возбуждением – Микроскопия с двухфотонным возбуждением
• TXRF - Полное отражение Рентгеновская флуоресценция анализ

U

• Спектроскопия затухания ультразвука – Спектроскопия затухания ультразвука
• Ультразвуковой контроль – Ультразвуковой контроль
• UPS – УФ-фотоэлектронная спектроскопия
• USANS - Ультра-малоугловое рассеяние нейтронов
• USAXS - Ультра-малоугловое рассеяние рентгеновских лучей
• УФ-видимый – Ультрафиолетовая видимая спектроскопия

V

• ВЕДИЧЕСКИЙ - Видео с улучшенным качеством дифференциальная интерференционно-контрастная микроскопия
• Вольтамперометрия – Вольтамперометрия

W

• ВОСК – Широкоугольное рассеяние рентгеновских лучей
• WDX или WDS – Рентгеновская спектроскопия с дисперсией по длине волны

Икс

• XAES – Рентгеновская оже-электронная спектроскопия
• КСАНЕС – КСАНЕС, синоним NEXAFS (тонкая структура поглощения рентгеновских лучей вблизи края)
• XAS – Рентгеновская абсорбционная спектроскопия
• X-CTR – Усеченный стержень для рентгеновского кристалла рассеяние
• Рентгеновская кристаллография – Рентгеновская кристаллография
• XDS – Диффузное рассеяние рентгеновских лучей
• XPEEM – Рентгеновская фотоэлектронная эмиссионная микроскопия
• XPS – Рентгеновская фотоэлектронная спектроскопия
• XRD – дифракция рентгеновских лучей
• XRES – Рентгеновское резонансное обменное рассеяние
• XRF – Рентгеновская флуоресценция анализ
• XRR – Рентгеновская отражательная способность
• XRS – Рентгеновское комбинационное рассеяние
• XSW – Рентгеновская стоячая волна техника

Рекомендации

• Каллистер, WD (2000). Материаловедение и инженерия - Введение. Лондон: Джон Вили и сыновья. ISBN  0-471-32013-7.
• Яо, Н., изд. (2007). Системы сфокусированного ионного пучка: основы и приложения. Кембридж, Великобритания: Издательство Кембриджского университета. ISBN  978-0-521-83199-4.